本機采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加*和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量，更加準確.
按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口，
上一篇：絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試系統符合的標準要求
下一篇：粉末電阻率測試儀組成結構功能說明
公司地址
電子郵箱
版權所有 © 2019 寧波瑞柯微智能科技有限公司 浙ICP備2022000105號-3 技術支持：化工儀器網 管理登陸 GoogleSitemap
咨詢在線客服
服務熱線
0574-27976124
掃一掃，關注我們
浙公網安備 33020502001079
